X射线衍射仪
配有对称 Ge 单色仪（Johansson 类型），为结构测定带来出色 Cu 或 Co Kα1-only Bragg-Brentano 反射光路、高分辨率、不对称峰、低背景。能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。
卓越的角度准确性:在整个2θ范围内，角度线性度远优于±0.01°，极限可达0.007°，可提供优异的仪器校准，支持准确可靠的分析。
领先的角度分辨率:显示半峰宽<0.026°2θ。
优异的低角度衍射性能:显示出良好的低角度衍射性能，最低可从0.3°起测。
超凡的能量分辨率：具备超凡的能量分辨率，能够有效去除过渡金属荧光背景，大幅提高信噪比。
超高强度/速度：640通道强度=2.5*256通道强度。
超高信噪比：640通道：12.9。
